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【原创】关于结合能校正的问题 谢谢

  • jenferzhao
    2009/05/14
  • 私聊

XPS及其它能谱仪

  • 各位前辈,我刚开始做XPS分析,看分峰步骤里面:作图完毕之后的第一件事情,就是结合能校正。 
      我做得样品是有机薄膜,含有C N O Si三种元素。做完XPS分析后,测试的老师跟我说这台仪器C标 采用284.8eV. 请问我该如何给我的样品作结合能校正呢?盼望大家给予解答。样品中我的C 状态应该有几种. 另外,我想问问,C标284.8eV指的是什么状态下的C峰阿 谢谢
      我的原始数据C1s XPS的origin图已经上传。非常感谢
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  • mrbing

    第1楼2009/05/15

    看峰形估计可以分2个峰,但要根据你对样品的了解来确定;如果能确定有2种化学位移的C,就可以用分峰软件分峰了,其中结合能低的C一般认为是污染碳的C峰,就把这个峰校正为284.8eV,比如说分峰后的污染碳峰是281.0eV,那么校正值就是3.8eV,也就是所有结合能原始数据都加上3.8eV。不知道是不是说明白了

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  • jenferzhao

    第2楼2009/05/18

    谢谢您的回答: 您说根据峰的形状,可以分为两个峰,您是怎么看出来的?能告诉我吗? 另外 为什么把结合能低的作为污染碳的峰呢?
      
    还有,是不是别的元素的峰也要按照C的校正情况,用同样的数据3.8eV来校正呢 比如O N Si 谢谢

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  • yinsh1212

    第3楼2009/05/18

    所有元素都要进行能量的校正,

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  • axh2001

    第4楼2009/07/15

    应该是这样的 你应该先问你老师他给的那个C的标准结合能是C那个峰的1 s的,然后再找到相应的那个峰的结合能(在你的图上),然后相比较。再对你所有的数据进行校正 。这是我理解的,仅供参考。

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  • guandawei

    第5楼2011/06/16

    这样把原始数据校正后还要再分峰啦?能不能在分峰软件上校正呢?

    (mrbing) 发表:看峰形估计可以分2个峰,但要根据你对样品的了解来确定;如果能确定有2种化学位移的C,就可以用分峰软件分峰了,其中结合能低的C一般认为是污染碳的C峰,就把这个峰校正为284.8eV,比如说分峰后的污染碳峰是281.0eV,那么校正值就是3.8eV,也就是所有结合能原始数据都加上3.8eV。不知道是不是说明白了

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