hitttr
第1楼2009/08/03
会使用Tapping Model,那使用C-AFM也基本上不成问题了。
首先,C-afm是导电原子力显微镜,
是在接触模式下测量的,即在测量形貌的同时获取样品的导电性的信息。
1.使用接触模式的针尖,并且表面有导电镀层的,如Pt,Au等。建议用镀Pt的。
2.调节激光,调节方法同Tapping Mode,只是将Deflection信号调节到0以下,例如-2,具体数值不是太紧要。
3.将Setpoint设置到0左右,然后下针,扫描。
4.选取两个channel成像,Channel 1 形貌,Channel 2 电流。
操作步骤基本上就是这样,其中可能有不是很确切的地方,请自行琢磨一下。
hitttr
第4楼2009/08/04
Setpoint,gain值与样品都有关系,你可以像调节Tapping模式一样试着调节。
与Tapping模式不同的是,Setpoint越大作用力也越大,所以Setpoint的调节方向与Tapping模式基本上是相反的。Gain值的调节方法与Tapping模式一样。
关于扫描速度,和Tapping模式差不多。
一般情况下,接触模式可以稍微比接触模式快一点。