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【讨论】XRF测试时出现的问题

  • 人生苦短
    2009/08/08
  • 私聊

RoHS/WEEE指令

  • 现在的XRF,是不是技术不成熟啊?在测试焊锡的锡块时,其Cd显示值基本都是假的,也就是说有别的峰对它进行了干扰,但是测试值会随着时间慢慢的减少,但我们测试的时间一般选择600秒,在这段时间内,Cd的含量还是超过标准,但是如果选择测试1000秒甚至更久的话,其含量可能会降到50以内。请问就没有别的办法了吗?
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  • luohi123

    第1楼2009/08/23

    之所以出现这样的结果,是与样品中锡锋干扰分不开的。当前还没办法解决这一问题。

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  • 无名

    第2楼2009/08/25

    您有没有对测试方法进行适当调整,比如选择更加合适的测试谱线。设备只是我们完成测试目的的工具,如何将结果更加准确,过程更加完美却是需要平时对设备使用的不断理解。

    jiaoxiake519 发表:现在的XRF,是不是技术不成熟啊?在测试焊锡的锡块时,其Cd显示值基本都是假的,也就是说有别的峰对它进行了干扰,但是测试值会随着时间慢慢的减少,但我们测试的时间一般选择600秒,在这段时间内,Cd的含量还是超过标准,但是如果选择测试1000秒甚至更久的话,其含量可能会降到50以内。请问就没有别的办法了吗?

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  • rodgerfei

    第3楼2009/08/27

    我们做有CuSn镀层时也遇到这样的困扰,根本测不准
    确实是Sn干扰所致。

    luohi123 发表:之所以出现这样的结果,是与样品中锡锋干扰分不开的。当前还没办法解决这一问题。

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  • 理想S

    第4楼2009/10/24

    我也遇到差不多的状况,谱线有干扰时,但是测试结果示值却是往往很高。和老大解释有干扰,但是老大非说测试结果示值是超标的,现在这个问题很头疼!他不理解啊!

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  • 洗衣机洗碗

    第5楼2009/10/26

    这个问题大家遇到的比较的多,大家可以将问题界面发邮件给我,大家一起分析学习吧。yyj808@163.com

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  • luojian800821

    第6楼2010/02/12

    那就將老大認為超標的樣品送外測試, 堵住他的嘴. 其實含錫的東西真的會干擾到Cd的結果, 可以找廠商特別做保證和做一次委外icp測試結合處理.

    理想S(yuan1985214) 发表:我也遇到差不多的状况,谱线有干扰时,但是测试结果示值却是往往很高。和老大解释有干扰,但是老大非说测试结果示值是超标的,现在这个问题很头疼!他不理解啊!

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  • delphi_dcs

    第7楼2010/03/02

    用化学分析方法来对比

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  • gmkj888

    第8楼2010/03/12

    给我发邮件吧!我给你一套解决方案,luwang3448@163.com

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