【求助】为什么好多人不来论坛了？

您好,您是从事行业什么仪器分析的?

看了您发的这个帖子后非常激动。证明您在关注我的帖子。很受感动。。

我们公司新上马的设备不到一个月，现在工程师走了，公司让我来做曲线和分析样品， 过些时候让取代手工分析，我现在头疼的很！！！！

设备名是：瑞士ARL公司的ADVANTXP X荧光分析仪。软件是OXSAS1.1版本。

工程师是个上海人，就在我们这里呆了不到一个礼拜就闪人走了，总共给我们做了4个曲线，什么精矿石，石灰石，铁矿石，和萤石等。 当时做这些曲线的时候，不是很准。因为他让我们压片也没告诉我们如何压，最后导致曲线做的不好。 由于准备样品不及时，很多曲线就只有5个左右的标样在做曲线，这样做的曲线也很不完美吧。


我们是一家钢铁公司，主要就是测定澳大利亚矿粉，精矿粉，巴西块，石灰石，石灰粉，焦粉，喷煤这些里边的 SI,TFE,S,CA,MG 等几个常用元素的含量。

现在的问题是：
1、在做方法曲线之前各试样类别的压片力度，压片时间，试样过目等注意问题。
2、在做曲线的前期步骤，如澳大利亚矿粉，精矿粉，巴西块等各个类别的谱线，Tance器，晶体，准直器该如何选，才做的准确？

3、想用我们现在工厂正在生产的试样来做曲线能不？不想用标样了！因为用试样有个 符合生产用的 数值范围概率。
4、做完曲线后如何校正？

希望各位大人帮我解析下，小弟再此先感激不尽！！！

1。理论上要求试样至少要过200目，标样和试样的压力和时间要保持一致。至少具体多少压力和时间要自己实验一下。
2。仪器条件参数的选择依据你的分析元素来定，一般仪器会给出一个推荐值，可以手动进行修改，也可以不改。
3。压片法一般都是用自己的生产样做标样来绘制曲线的。
4。不知你指的是仪器校正还是结果的校正。仪器校正有设定好的程序，操作起来比较简单。结果数据的校正比较复杂。不过使用生产样做标样的话，一般除了考虑干扰谱线之外，不考虑基体的校正。

太感谢您了！！
也许您的这些回答是初入门的朋友最佳的答复。。。。
真正做到了指点迷津，

另外： 您第4条中所提的 基体校正是什么概念？？经常见这个词语就是看不懂。
另外：还有如下图中


所谓的强度是说什么意思？什么的强度‘？
A0\A1是什么意思？？
干扰通道数量是个什么概念？

这个是全图。
请给与指点1，2

我们也遇到同样的问题。建议多奖励和设置新的话题。

强度低限和高限是基本曲线也就是未经过校正的曲线段的最低点和最高点。
AO，A1，A2，A3是曲线的参数，常见的一次曲线也就是直线，只有AO和A1，分别是斜率和截距。
干扰通道是当使用了任何校正模式之后，所选择的参加校正的元素通道的数量。当然，没有做任何校正，这个数值应该是0。

所谓基体就是样品的组成成分。基体效应就是基体对分析元素测定的影响，不同元素之间都存在互相影响，一般称为吸收增强效应，另外还包括样品的物理状态和元素的化学价态的不一样而产生影响。对基体效应进行数学公式的修正就叫基体校正。
关于基体校正一般X荧光的书上都会有介绍，也有很多校正公式，有兴趣的话可以去看看。至于选择哪种校正模式合适，应以最终分析结果为准。

ieeye 发表:太感谢您了！！
也许您的这些回答是初入门的朋友最佳的答复。。。。
真正做到了指点迷津，

另外： 您第4条中所提的 基体校正是什么概念？？经常见这个词语就是看不懂。
另外：还有如下图中


所谓的强度是说什么意思？什么的强度‘？
A0\A1是什么意思？？
干扰通道数量是个什么概念？

制样方法是熔片法吗？
如果是压片法，要保证样品均匀和颗粒度一致，否则校正也不一定有效果。

ieeye 发表:这个是全图。
请给与指点1，2

看来我们的力量是很大的！
希望你能找到你所需要的啊！