【求助】理学D/Max 2500中文说明书同时请教几个小问题

1.照射面积与X光源光束尺寸，测角仪半径，所选用的发射狭缝(或入射狭缝)和限宽狭缝有很大关系，这个是可以计算的。并且，一般在低角度下，照射面积会扩大，导致低角度侧背景很高，可以使用一些限制组件来减少背景(如防散射筒等)。
4.如果是钢材样品，Fe的荧光现象会造成衍射背景很高，可以换用其他的X光源靶材(如使用Fe靶)。如果换靶不方便的话，可以改变探测器的波高分析器基线值和窗口值，这样可以有效减低荧光现象的影响，目前很多X射线仪都有所谓的荧光减低测试模式，就是这个原理，对于一般测试要求，这个就足够了。还有就是，使用闪烁计数管比使用半导体型探测器得到的数据背景要低很多，但是要慢扫描。
5.同意ls，您使用的2500是非水平型测角仪(theta/2theta步进模式，样品随着theta角转动)，现在很多仪器使用水平型测角仪(theta/theta步进模式，样品保持水平)，这样样品就不会倾覆了。
6.现在很多衍射仪可以对某些薄膜样品确实可以进行深度分布分析，这与普通的广角衍射测试手段不同。对于粉末样品，一般默认样品分布随机，没有深度上的分布不同。对于块材样品，看过有人做深度分析。
我也是开始学习X射线不久，一点浅见，请指正。