X射线荧光光谱仪(XRF)
Onway
第1楼2010/02/10
个人觉得应该可以的!你是相同型号的仪器,影响应该不大
zyt1986421
第2楼2010/02/10
不懂啊,技术水平达不到啊
george
第3楼2010/02/11
同一种材质的话,膜变厚肯定强度会下降。但是不同的膜可能不能这样比,需要看具体参数。但是以经验来看,PC的膜更换后,估计强度不会有大的变化。
lailai
第4楼2010/02/14
应该进行能谱校正吧,即晶体和计数器组合的校正吧
X荧光
第5楼2010/09/28
个人是很难换探测器的膜的,很细致的活。膜的厚度对NaMg等轻元素影响较大。
wangyiling
第6楼2010/09/30
个人认为对强度影响不大。因为正比流气计数器主要用于测量轻元素,用氩甲混合气的目的就是要克服轻元素测量时的强度低的问题,而对于轻元素荧光的能量到达计数器穿透两种窗膜时强度衰减差距不会很大,对测量不会造成影响,如果担心对强度有影响,适当增大些测量电流就可以了。
草原之恋
第7楼2010/10/09
干这种活一定要细。
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