【原创】氢氧化钠中的碳酸根和硫酸根怎么测？

IC可以测无机阴离子：卤素及简单阴离子、酸根等啊，无机阳离子：碱金属、碱土金属、过渡金属、稀土无素

ppm级的啊
icp

可是要测的是氢氧化钾里面的杂质，碱性很强，各种阴离子也很多，稀释之后检出限又不够了，而且还有干扰。

把碱中和掉

不管什么方法测，钠离子的干扰都是不容忽视的！尤其ICP!

把钠搞掉

金属离子还好说，就是那些阴离子难弄，即便把氢氧化钾中和的话离子强度还是太大了，想必上了IC效果也不会太好。测硫酸根有一种方法是比浊法，就是加入钡离子使硫酸根变成硫酸钡晶体，溶液变浑浊，吸光度升高，可我实际做了一下，硫酸根限值是20ppm，稀释十倍做那么溶液中是2ppm，定量限取十分之一是0.2ppm，配0.2ppm的硫酸钠溶液，加入过量氯化钡，我哭了，溶液很透明，根本没有变浑浊。

你可以参考一个国标,在工标网里面查,不是用ICP来做的,用滴定的办法可以的

你哭了，我笑了。看了你的帖子深有同感，可能没哭过，郁闷是常有的，欲哭无泪的时候偶尔也有过。