kinkioo613
第1楼2010/05/11
个人感觉全谱数据的采集不是目的,只是一个手段,要根据测量对象,测量目的来看全谱是否必要。
至于高检出能力、低噪声这些都不是ICP-OES的目标,是MS的领域,在检出能力方面MS比OES做的好得多,至于MS的价格以后必然会降下来。
我觉得OES今后的方向应该是简单使用、简单维护、尽可能的降低样品制备时间。另外能够快速通用的使用去干扰、谱线识别功能。
Tim
第6楼2010/05/17
1、全谱数据的采集?随着半导体技术的发展容易做到
2、高检出能力?低信号噪声,低光学噪声,低电子噪声?这也是依赖于半导体技术和计算技术,会不断提高
3、数据重现性?长时间使用下?这个现在有的仪器已经能达到
4、仪器维护简单?会不断实现,有个别厂家的已经比较简单啦
5、特殊样品的适应能力?这个很难实现
6、多谱线自动识别?这需要大量的数据运算,不过没有太大实用价值
7、测试速度快?多快呢?现在已经比较快啦
8、加一条:超高的分辨率,使得光谱干扰大大降低。这可以弥补四级杆质谱在一些复杂样品分析中的不足。
分享快乐
第7楼2010/05/20
说的好啊,要是能不用前处理,什么形式的样品都能进样就更好了阿
shaweinan
第9楼2010/05/23
全谱数据的采集对分析速度和效率至关重要,现在暂时测试的样品比较少,检测的元素不多,并不能保证今后也是这样。
检出能力虽然ICP-MS要明显好于ICP发射,但这并不意味着后者就不需要好的检出能力和更低的检出限,同时前者在进行复杂样品的检测过程中特别是对高盐样品的检测时还是存在一定缺陷的。
使用简单、维护方便、样品前处理容易,这不仅只是ICP发射光谱法的发展方向,也是很多其它仪器分析方法的发展方向。但在抑制和消除干扰,尤其是谱线确实是原子发射光谱仪器需要继续努力的一个重要方面。