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【求助】请教AFM测试中遇到的问题（附图）

  • jinqiangyu
    2010/05/15
    • 私聊

扫描探针显微镜SPM/AFM






  • 这是我测试的ZnO薄膜的表面形貌和三维形貌图，测试用的是DI公司的Veeco Dimension 3100型原子力显微镜，测量模式是Tappingmode，感觉测的很不好。
    新手请教各位大侠：
    1.根据我上传的图，能否帮忙分析问题在哪？
    2.怎么确定扫描范围？
    3.怎么设置扫描频率和像素，'Number of sample’，说明书上说要看多大的尺寸。问题是我也不知道我要看多大的尺寸。请问怎么设置才能把图测好？
    4.怎么把我在三维形貌图上圈住的那部分取出来？我看好多文章都只有那部分。
    5.DI公司的Veeco Multimode AFM 和 Dimension 3100测试的结果差别有多大？
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    +关注 私聊

  • unht

    第1楼2011/03/10

    不知道你的问题解决了没有？

0
    +关注 私聊

  • 小M

    第2楼2011/03/15

    应助达人

    楼主已经很久没有登录了，以至于ID已经被封存

0
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