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【求助】请问,布鲁克测薄膜衍射时,仅仅需要去掉镍滤波片吗?

X射线衍射仪(XRD)

  • 那样,CuKa和CuKb不是都会在试样表面发生衍射吗?峰会不会多一倍?
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  • xiaochong98

    第1楼2010/05/29

    d低角度分不开,高角度可以看到。

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  • jidzhang

    第2楼2010/05/29

    测试薄膜的最关键问题在于对准样品。

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  • westlover

    第3楼2010/06/02

    您的意思是一定要保持试样面水平吧?

    jidzhang(jidzhang) 发表:测试薄膜的最关键问题在于对准样品。

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  • westlover

    第4楼2010/06/02

    高角度的时候,(70°)2seta 有没有可能差0.5°?

    xiaochong98(xiaochong98) 发表:d低角度分不开,高角度可以看到。

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  • jidzhang

    第5楼2010/06/05

    样品的高度也很关键,要保持样品表面恰好处于光路中

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  • ycuijj

    第6楼2010/06/09

    首先2theta对零,其次样品台前后伸缩z方向调整到光能量切掉一半,然后调整w
    、phi 角度范围0.1-10足够,步长0.002-0.01 速度0.5好,0.1差。可采用正反测,多次测消去角度偏移。目前大家膜厚测量的精度有多少?

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  • jidzhang

    第7楼2010/06/13

    如果用软件拟合的话应该是0.1nm

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