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【讨论】请教STEM问题2-带轴

透射电镜(TEM)

  • 请问各位,STEM模式下,怎样找到合适的晶体学取向?有TEM模式的自然会比较方便,如果纯粹在STEM模式下工作,这个一般怎么实现?感觉比较厚的样品会有类似菊池线的东东,但是对于比较很薄又很小的纳米薄片(几个nm大小),就感觉特别棘手,只能在各个方向上随机的倾转若干度,然后扫扫看,不知道大家有没有比较好的建议?非常感谢!
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  • penguinle

    第1楼2010/06/19

    你这种情况在dedicated STEM上都是这样的,再薄的晶体样品你都可以看到kikuchi line,只要你制备样品的时候争取在主要晶轴附近就可以了,如果离的很远就会很麻烦。

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  • boyjch

    第2楼2010/06/19

    多谢指点,看来还得在样品制备的时候下功夫。

    不知道dedicated STEM是什么样的(VG,NION,Hitachi?),我现在用的是JEOL比较特殊的低压(60KV)的双球差的电镜,主要对象都是所谓的单原子样品,石墨烯之类的,基本上没法出Kikuchi line,大面积的单层样品一般还好,几乎不怎么需要倾转,但是一些纳米薄片,比如WS2之类的,就需要特殊的取向,只能凭感觉随机的瞎转,然后扫。一般离的远的话,大家会采取什么办法?有没有什么经验性的建议,谢谢!

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