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【求助】衍射仪制样问题

X射线衍射仪(XRD)

  • 样品研磨后,我一般是过325目的试验筛,然后取筛下物来压片测试

    现在有个问题,过筛时只是把样品细的一部分过下去了,取细的来测试

    这样测试的结果是不是不会反应样品真实的成份呢?

    还是应该缩分后,取小部分过筛,没过筛的继续磨到全过筛为止,再 取样测试?
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  • xujun16

    第1楼2010/07/25

    你好!
    1.这样测试的结果是不是不会反应样品真实的成份呢?
    答:你做的真仔细:-)
    你所指的真实的成份?是不是指物相会变化?
    那我就这么理解了。
    情况是这样:XRD希望试样越细越好,比如,当粒度小于5微米,强度重现性在1.2%,在5-50微米的范围内,强度重现性在10.2%。
    当然试样过份细了,会产生一些微结构的影响,这影响不严重。也可以修正,比如退火,或精修时克服。
    假如你的粒度很大,强度重现性很差,会产生物相无法被检索识别的情况。
    所以宁可细点,也不要粗磨!
    2.还是应该缩分后,取小部分过筛,没过筛的继续磨到全过筛为止,再 取样测试?
    答:一般的材料化学,无需这样操作!(除去地质等分析过程,在原料采样时。等)这还需具体看你做什么分析。(个人之见)。
    谢谢参考指正!

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  • wanghui00100

    第2楼2010/08/12

    我感觉应该先缩分,取小部分过筛,没过筛的继续磨到全过筛为止,再 取样测试。因为试样里可能存在不同硬度的东西,而它们有的易磨有的难磨。

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  • iangie

    第3楼2010/08/12

    应助达人

    楼主~~~一定是后者~~

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  • XRD

    第4楼2010/08/26

    这种做法有待改进。
    首先应当肯定的是过325目筛。虽然并不是说粗了或者细了就不能做XRD。但是,过粗的话,参与衍射的晶粒数量少了,衍射强度下降,不便于分析是很容易理解的;反过来,也不宜过细。因为过细的粉末就变成了“纳米”级晶粒了,衍射峰强度同样下降,而且由于峰宽变化,造成部分峰形重叠,影响分辨能力。如果是做定量的话,还会影响K值(RIR),使K值变小。微观应力也会随之产生。
    需要改进的是分筛方法。一个样品中往往存在多个物相,各个物相的硬度,脆性都不相同,有些相容易磨细,另一些相可能很难磨,如果一步一步地将达到325目的颗粒筛分出来,可能研钵中只剩下一个相了。所以,正确的做法是:
    1)取稍多于需要的样品进行研磨(考虑取样的代表性)。
    2)研磨、过筛(将已达到规定目数的粉末取出来,以免过细);
    3)分筛后的粗样品继续研磨、分筛
    4)将最后分筛出来的样品继续研磨,达到规定的粒度后,加入到样品中,不可舍去任何部分
    5)将各步分筛出来的样品再混合均匀(各步分筛出来的样品成分是不同的,前已说明)
    6)从混合好的粉末的四角取样,完成衍射(这是所谓四角取样法)。

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  • 小伊~

    第5楼2011/02/19

    谢谢呀 ~说的真详细、

    XRD(huangjw) 发表:这种做法有待改进。
    首先应当肯定的是过325目筛。虽然并不是说粗了或者细了就不能做XRD。但是,过粗的话,参与衍射的晶粒数量少了,衍射强度下降,不便于分析是很容易理解的;反过来,也不宜过细。因为过细的粉末就变成了“纳米”级晶粒了,衍射峰强度同样下降,而且由于峰宽变化,造成部分峰形重叠,影响分辨能力。如果是做定量的话,还会影响K值(RIR),使K值变小。微观应力也会随之产生。
    需要改进的是分筛方法。一个样品中往往存在多个物相,各个物相的硬度,脆性都不相同,有些相容易磨细,另一些相可能很难磨,如果一步一步地将达到325目的颗粒筛分出来,可能研钵中只剩下一个相了。所以,正确的做法是:
    1)取稍多于需要的样品进行研磨(考虑取样的代表性)。
    2)研磨、过筛(将已达到规定目数的粉末取出来,以免过细);
    3)分筛后的粗样品继续研磨、分筛
    4)将最后分筛出来的样品继续研磨,达到规定的粒度后,加入到样品中,不可舍去任何部分
    5)将各步分筛出来的样品再混合均匀(各步分筛出来的样品成分是不同的,前已说明)
    6)从混合好的粉末的四角取样,完成衍射(这是所谓四角取样法)。

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  • xdfxwc

    第6楼2011/02/23

    理想状态是缩分全部过筛,分析准确全面。但实际工作中太麻烦,而且也不一定很准确,如样品中有粘土会粘附在筛子上,少部分粘土粘在筛子上,而石英等大矿物全部筛下去了。所以我们通常根据经验,研磨到325M以下不筛直接测即可。

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