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【原创】分立器件研讨会取得完满成功

hui52002

2010/07/27

2010 年7 月22 日由美国科技测试公司（STI）与深圳云帆兴烨科技有限公司（SinYee）联合举办的“分立器件测试技术研讨会” 在深圳东方银座酒店胜利闭幕。

会上美国STI公司副总裁John Bailey与大家一起分享了半导体分立器件测试的经验和技术，STI分立器件测试仪的应用，Curve Tracer功能与泰克370B的对照分析，并现场解答众位热心听众关心的测试问题。精彩的演讲报告，为与会的工程师提供了解决测试问题的宝贵方思路，大家都觉得获益匪浅。宽敞的会场座无虚席。

本次研讨会吸引了来自电源、半导体、消费电子等不同行业众多著名企业参加，来自艾默生，山特等的工程师还跟大家现场交流了5000C的使用心得，道出了使用者的肺腑之言，迎来与会者的阵阵掌声。

为大家提供宝贵交流机会的研讨会虽然结束，但是搭建起了彼此沟通的桥梁，会后仍有工程师依依不舍，索取感兴趣的资料甚至留下来与STI的专家继续交流，这更鼓励我们以后会将此类会议越办越好。

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〓疯子哥〓

第1楼2010/07/28

这次研讨会讨论主要哪些方面？能否把讨论的相关内容发上来让大家学习学习？

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