zwyu
第1楼2010/08/06
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红外偏振片
==============================zwyu的分割线======================================Tips:镜面反射,特别是大角度的镜面反射,最好配上红外偏振片使用,会使你的实验数据质量得到意想不到的改善,很多让你“抓狂”的古怪结果,都是“偏振”惹的祸。
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s偏振光和p偏振光的吸收特性
s偏振光和p偏振光的反射特性
为了便于理解,我用上面的两个图来描述一些特定情况下s偏振光和p偏振光随入射角度的一些不同变化规律。它与基质和表面层的材料物理光学参数密切相关。我给出的这两个图只是为了便于理解,不可一概而论。
==============================zwyu的分割线======================================Tips:很多时候,透射反射和掠角反射的应用领域很难分的那么清楚,所以又有人将两者统称为反射吸收(reflection-absorption spectroscopy,即RAS)。
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80度角镜反射附件
80度角镜反射典型光路
==============================zwyu的分割线======================================Tips:掠角反射时样品最好有几个cm2的面积,以有效接受光能量;若达不到,应辅以遮光圈等措施。
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3. 掠角反射
对于金属表面的超薄膜、超薄涂层或单分子层(通常膜厚在1nm~1μm)的研究,常采用掠角反射技术(入射角65~85°)。掠角反射相比其他的镜反射,具有最大的灵敏度(因为其实际光程可达膜厚度的十到几十倍)。由于在掠角入射条件下,p偏振光(电矢量与入射面平行)相干增强,s偏振光(电矢量与入射面垂直)相消接近为零,并且对红外吸收有贡献的只是p偏振部分,所以通常在光路中加入偏振片,得到p偏振光,以改善测量效果(特别是在分子取向研究时)。
s偏振光和p偏振光不同的相位变化,引自参考文献2
金基质上硫醇单分子层的镜反射光谱,80度角入射,p偏振,引自参考文献1
从检测器的角度考虑,由于金属表面超薄膜掠角反射系统的光能量总体损失相对较小(能量损失可在50%以下),对比真正要测的极其微弱的光吸收(考虑到薄膜厚度远小于1μm,假定其有10-4Abs量级的吸收,对应0.0X%的透射率变化),则到达检测器的本底光能量就显得过高了,这会带来A/D转换时的数字化噪声问题。更严重的是,由于对微弱信号通常采用的是MCT检测器,而MCT检测器通常又很容易饱和,此时会出现检测器的非线性响应问题,导致定量不准,光谱失真。如果光路中加入偏振片,不仅主动衰减了相对过剩的光能量(衰减为原来的1/3左右),以减小检测器的非线性;还使得吸收带强度倍增(对红外吸收有贡献的只是p偏振部分,s偏振部分只会增大光谱噪声而对增大信号无益)。显然,掠角条件下采用偏振技术,会显著提升检测灵敏度(见下图)。再配合线性MCT检测器(线性范围是常规MCT的10倍以上)、干涉图自动增益放大技术(最小化数字化噪声,得到更清晰的光谱细节)和最新的24位A/D转换器件,可以得到更满意的测量效果。
==============================zwyu的分割线======================================Tips:线性MCT检测器和干涉图自动增益放大技术是Varian公司的专利。
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==============================zwyu的分割线======================================Tips:红外反射吸收(RAS),特别是掠角反射(GIR),还可以结合偏振调制(PM)技术来进一步提高灵敏度和信噪比,是为红外偏振调制反射吸收(PM-RAS,也有人记作PM-IRRAS)。
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结论
由于红外镜反射测量无损、不接触、不需制样、高灵敏度等众多优点,常用于表面涂层、树脂和聚合物薄膜、金属表面污染物、表面处理和表面吸附、半导体外延膜、电化学反应研究等,在微电子、催化剂、电化学、聚合物、生物材料、药物、矿物、涂料等众多行业得到应用。
参考文献
1. Pike公司镜反射附件宣讲资料
2. John M. Chalmers, Peter R. Griffiths, Handbook of Vibrational Spectroscopy
3. Varian公司傅立叶变换红外光谱仪手册
4. Peter R. Griffiths, James A. de Haseth, Fourier Transform Infrared Spectrometry
5. 吴瑾光,近代傅里叶变换红外光谱技术及应用
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zwyu
第2楼2010/08/06
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附录
本附录将和大家分享几种上文未点到的镜反射附件的精彩应用。
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可变角镜反射附件
可变角镜反射典型光路
==============================zwyu的分割线======================================Tips:前文掠角反射主要讨论的是金属基质。当表面膜厚>1μm或者是基质为非金属时,掠角的效果不见得好。最好改用可变角镜反射。
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可变角镜反射附件
最常见的可变角镜反射附件入射角度在30~80度之间可调,这就为红外反射实验带来了很大的灵活性。上文中,为避免透射反射光谱偏离Lambert-Beer定律,选择了材料的Brewster角做为最优入射角度,就充分体现了可变角镜反射附件的优越性。
但是,由于内部经过了更多次的反射(见上面的光路图),所以可变角镜反射附件的光通量会差于专用的30度或80度角镜反射附件。
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10度角镜反射附件
10度角镜反射典型光路
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10度角镜反射附件
10度角镜反射附件常常用来测量材料的中红外区反射率参数,与紫外-可见-近红外分光光度计得到的紫外-可见-近红外区的反射率数值一起,作为材料全波段反射率参数表征的有力工具。
通过比较10度角和30度角镜反射附件的光路图可知,上述10度角镜反射附件采用的光路结构中,全部的入射光都是平行入射到材料表面,对反射率的测量,理论上会比30度角镜反射附件采用的结构更为准确。而且,10度角属于小角入射,最大程度的减小了光偏振可能引入的不确定性。
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基准反射片(标准Ge晶体,带有绝对镜反射率数据文件)
ZnSe晶体样品的相对反射率和绝对反射率谱图(由上面的基准反射片数据计算得来)
==============================zwyu的分割线======================================Tips:在光学镀膜行业,通常会采用“对标”控制样的办法来保证产品反射率测量的准确性。所以,下面的绝对镜反射附件并不是必需的。
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V-W型绝对镜反射附件
V-W型绝对镜反射光路示意图
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绝对镜反射附件
红外的绝对镜反射(absolute reflectance)附件,与紫外-可见-近红外分光光度计经常使用到的绝对镜反射附件一样,通常采用V-W型光路结构来实现。前面的那些附件如果用来测反射率的话,不管是10度角也好,30度角也好,80度角也好,测量直接得到的都是相对反射率(相对你所用的基准镜的反射率而言,而基准镜的绝对反射率肯定不会是100%),需要通过“已知镜”(基准镜)的反射率数据文件来对结果进行换算,才能得到真实的“绝对反射率”。V-W型绝对镜反射附件则不依赖“已知镜”,通过连续两次测量,直接能够得到绝对反射率的数值(仅需对得到的数据开方即可)。
缺点:贵,很贵。。。
硅片的绝对反射率谱图
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红外显微镜
==============================zwyu的分割线======================================Tips:如果要做显微红外的话,本人更推崇显微透射模式下用显微金刚石池来做,这种模式下得到的谱图质量最好。当然,显微ATR也是一个不错的选择。相比较起来,一般显微反射的效果没有这两个好。
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红外显微镜的反射模式
前边讲到的附件都是直接配合红外主机使用的附件。在进行微区分析、表面分析、失效分析时,现在经常会用到红外显微镜。基本上所有的红外显微镜都能进行常规的显微反射测量,一般来说不需要你额外再配什么显微附件了,除非是做显微掠角反射时,需要加装一个特殊的掠角反射物镜(通常称为GAO)。需要提醒一点的是,做显微红外分析,需要掌握一些类似光学显微镜样品制备的技术,虽然有些时候做显微反射根本无需制样。
红外显微镜就更贵了,所以也请大家不要把它当“低档可见显微镜”使用。。。
==============================zwyu的分割线======================================Tips:红外要学好,看贴少不了。
有空多回帖,做人要厚道。
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=================================The End========================================
奖品许愿:希望获得德生(TECSUN)牌收音机一部,根据一二三等奖的具体情况依次为:
一等奖:http://item.taobao.com/item.htm?id=6947983431
二等奖:http://item.taobao.com/item.htm?id=2621483075
三等奖:http://item.taobao.com/item.htm?id=1460242431
以上机型的颜色都希望是黑色
zwyu
第7楼2010/08/06
其原理与紫外-可见-近红外使用的V-W型绝对反射附件一样,关于它的使用容易让人疑惑的一个地方,我推荐你看帖子关于测量薄膜样品表面绝对反射率的问题