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【原创】beam damage

透射电镜(TEM)

  • 會發這帖...是因為之前有版友說到~

    ion-miller打了幾十小時~

    一個成功的手磨試片~不應該打超過1小時~

    否則就會像圖中試片那樣~

    圖中大約打了將近2小時~

    就已經是殘破不堪...

    檔案裡面還有一張是成功的試片~正常就應該像那樣~

    給大家參考..

    至於如何制作試片...只能各憑本事...

附件:

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  • sendtony6

    第1楼2010/10/03

    補充一點~

    假如是用FIB切的試片~更容易產生damage

    (技術差一點的話~)

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  • risohuang

    第2楼2010/10/08

    怎么下载了解压不了、打不开?

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  • 怪味陈皮

    第3楼2010/10/08

    没有问题,可以打开

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  • risohuang

    第4楼2010/10/08

    重新下载还是同样问题,不知为何。

    另外那本书:
    High-Resolution Electron Microscopy (Monographs on the Physics and Chemistry of Materials).pdf
    下载以后打开竟然是空的。

    不知是否权限、积分什么的区别?

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  • 怪味陈皮

    第5楼2010/10/08

    应该没有,告诉我你的邮箱,我把那本书发给你。

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  • risohuang

    第6楼2010/10/08

    已给你留言。谢谢!

    怪味陈皮(ustb) 发表:应该没有,告诉我你的邮箱,我把那本书发给你。

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  • leo0518

    第7楼2010/10/14

    我经常打出像图3中那种样子,但是不理解为什么本应该是均匀的减薄过程,会打出沿一个方向的片层结构?

    sendtony6(sendtony6) 发表:會發這帖...是因為之前有版友說到~

    ion-miller打了幾十小時~

    一個成功的手磨試片~不應該打超過1小時~

    否則就會像圖中試片那樣~

    圖中大約打了將近2小時~

    就已經是殘破不堪...

    檔案裡面還有一張是成功的試片~正常就應該像那樣~

    給大家參考..

    至於如何制作試片...只能各憑本事...

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