【讨论】一个STEM的暗场像问题

可以利用普通ADF成像，但是成像的机理就不再单纯是Z衬度像了吧，个人觉得ADF成像兼有了部分相位衬度和部分Z衬度，再加上其他诸如electron channelling等效应，所以像解释起来比较麻烦。实际操作上要通过改变探测器的接收半角，但是看文献上说也可以通过改变物镜上极靴或下极靴来调整（好像是通过改变聚焦在样品上的电子束的会聚角间接的达到目的）？这个不是很清楚

没做过HAADF，我觉得只是简单的改变相机长度不能得到Z衬度像。早在1980年就有人用ADF做单原子成像了，而HAADF是Howie在90年代左右提出来的，10几年的努力应该不会这么简单。

原子分辨率STEM并不是HAADF的专利，ADF或明场探头也可以做到，只是可直接解释性太差，失去了Z衬度的优势。HAADF的特点除了收集角高以外，其采集灵敏度也大大高于普通的ADF探头。高散射角的电子数不多，更需要灵敏度。ADF的位置通常很低，采集角不高（即使是很短的相机长度），此外它的低灵敏度也不适合弱讯号的收集。

非常同意TEM_abc的回答