【求助】探头被污染！！？？？

1.边框問題﹕你的設備有沒有背散探頭啊﹐我們之前也碰到過。后來分析是由于背散探頭放歪造成的.
2.做粉末品對電鏡有影響是肯定的.那位專案說的樣品前處理方法也是可取的.不過在放到電鏡里
前最好先利用其他抽真空設備預抽一下﹐這樣可以把一些可能會因為抽真空跑掉的粉末先
處理掉.
3.去掉这些絮状物質似乎沒有其他更好的辦法了﹐只有在設備大保養時更換光攔.清洗鏡筒才能
真正解決這個問題.

实在是很谢谢LS的回答

1.有背散射的探头，那我再调整一下探头是不是可以消除边框，有不少客户反应低倍的时候实在是不好看
2.除了一个坏了的喷金仪就没有其他的抽真空的设备了，呵呵
3.等到设备大保养都不知何年何月了，只好先凑合着用了

O(∩_∩)O谢谢

应助达人

低倍的时候，确实是可以看到极靴的。
加了背散射探头就更加能看到那个框了。
没看到有你说的絮状物啊？

LFD是什么探测器？成像原理是什么?网上没搜索到。二次电子像能否看到边框？

在边框的左右两边上

这是FEI 环境扫描电镜低真空模式的探头，这是二次电子像吧！！？

fengyonghe(fengyonghe) 发表:LFD是什么探测器？成像原理是什么?网上没搜索到。二次电子像能否看到边框？

BSED装了吗?用LFD时最好把BSED拿掉, 图像问题不大, 边缘的的问题可以通过更换200UM 光阑和清理POLEPIECE解决

在很低的放大倍数下不可避免的看到光阑孔的边。这的确是正常现象。如果你不想看到，可以增加工作距离。高真空时还可以把insert取出。都可以增大视野。絮状物不是探头被污染了而是沾在光阑上了。如果像散可以调好都没必要管它。如果无法调像散可以考虑换光阑。

LFD large field detector
低真空二次电子探头。原理类似于环扫探头，都是样品表面二次电子电离气体分子，在外加电场作用下引发雪崩效应，电离的气体正离子中和表面荷电，二次电子成像。这本身就是二次电子像。

fengyonghe(fengyonghe) 发表:LFD是什么探测器？成像原理是什么?网上没搜索到。二次电子像能否看到边框？