【求助】请问：如何最大限度且可靠的利用SEM/EDX 对两种有机物来进行比较和判断异同？

对有机物的测量，能谱仪似乎不太胜任，超轻元素分析误差很大。估计连标样也没有。

确实没有标样，售后可以用标样进行能谱矫正，请问日常的EDX测试是否也需要标样进行比对呢？这方面我不是太了解，请多指教！
如果日常也需要标样，请问标样在哪里可以购买？必备标样的种类？多谢了！

中镜科仪网http://www.emcn.com.cn/list.asp?id=995有售。

日常工作多以无标样分析居多，但要做好最优化。可以发一张谱图看看吗。你说的有机物是在试样表面的吗？如果有机物是在试样表面，收谱之后把基体元素去掉，只计算有机物的成分。这样就避免了基体对超轻元素的吸收校正，结果更真实些。

异物种类繁多，一般可以找到发源地，
但楼主的有机物异物无法做出有效鉴定，主要形貌不规则，无规律，元素主要CHON等，探测误差很大，确实是难题！做出来可以申请专利了！

多谢指导！放一张图片和谱图作为举例，任何建议 请联系我，多谢了！


2

异物种类繁多，一般可以找到发源地，
但楼主的有机物异物无法做出有效鉴定，主要形貌不规则，无规律，元素主要CHON等，探测误差很大，确实是难题！做出来可以申请专利了！[/quote]

多谢楼上，深有体会！确实比较难出结论，还是要红外支持 才是正途啊！

放一张图片和谱图作为举例，任何建议 请联系我，多谢了！

请看下面的帖子，因为修改了。抱歉。

多谢指导！放一张图片和谱图作为举例，任何建议 请联系我，多谢了！

这些外来物不是有机物：是混有石墨的氧化物。
看到图像和能谱分析结果了，问题发生在工件表面，需要了解该工件的使用环境。从这三张图来看，工件在工作过程中，外来物被挤压而镶嵌在其表面，所以这些东西还有一定的硬度，比基体的硬度高，说它是有机物的可能性不大。另外，这几张照片都没有放电现象，外来物导电良好，说明碳的存在状态是石墨，不是有机物。这些外来物一定可以在现场找的到，拿来做对比试验，一定会对结论有帮助。