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TOC仪的专属性怎么测

常用设备综合讨论

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  • 请问各位大侠,我们单位近期买了一台GE的TOC仪回来,现在领导让我们自己做TOC仪的专属性,请问这个实验要怎么做啊?哪位大侠有这方面的经验分享一下吧!我不胜感激。

xing-xing 2011/01/18

1.2. Assay and Impurity Test(s) 含量和杂质检测 对于色谱方法,用典型图谱来证实专属性,图谱上单个组分应合理标注。其它的分离技术也应给予类似的考虑。 应调查色谱法的关键分离(临界分离)处于适当的水平。对于临界分离,专属性应通过相邻出峰的两个组分的分离度来证明。 若是使用的非特定的专属含量测定,应使用其它的支撑的分析方法来证明总体的专属性。例如,采用滴定方法来测定用于放行的原料药,可以联合使用含量测定和杂质的合理检测。 对于含量和杂质检测,方法是类似的。 1.2.1 Impurities are available 杂质可以获得 对于含量测定,这应包括杂质和、或赋形剂中分析物的区分的证明。在实践上,可以通过在纯的物质(原料药或制剂)中加入适量的杂质和赋形剂,并证明含量的结果不受这些物质存在的影响(通过和未加样的样品的含量测定结果比较)。 对于杂质检测,通过在原料药或制剂中加入适量的杂质,并通过证明这些杂质逐个分离,和样品基质中其它组分也分离,来建立区分。 1.2.2 Impurities are not available 杂质不可得到 如果杂质或降解产物的标准品不能够得到,专属性可以通过比较含有杂质或降解物的样品的检测结果和另外的完好的分析方法,如,药典方法或其它验证的分析方法的结果来证实。(独立程序)。适当的,这应包括在相关强降解条件下储存的样品:光,湿,酸解/碱解,以及氧化条件。 - 对于含量,应比较两个结果。 - 对于杂质检测,杂质的概况应比较。峰纯度的检测对表明分析物的色谱峰不是有超过一个以上组分产生的很有用(如,二极管阵列,质谱)。

面对面想你 2014/05/12

先要弄清楚楼主说的TOC仪是总有机碳测定仪,还是其他?

ghcily 2011/01/18

TOC为非专属性检测方法

hill009 2011/01/18

总有机碳(TOC),由专门的仪器——总有机碳分析仪(以下简称TOC分析仪)来测定。TOC分析仪,是将水溶液中的总有机碳氧化为二氧化碳,并且测定其含量。利用二氧化碳与总有机碳之间碳含量的对应关系,从而对水溶液中总有机碳进行定量测定。 仪器按工作原理不同,可分为燃烧氧化—非分散红外吸收法、电导法、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相色谱[/color][/url]法等。其中燃烧氧化—非分散红外吸收法只需一次性转化,流程简单、重现性好、灵敏度高,因此这种TOC分析仪广为国内外所采用。 TOC分析仪[/color][/url]主要由以下几个部分构成:进样口、无机碳反应器、有机碳氧化反应(或是总碳氧化反应器)、气液分离器、非分光红外CO2分析器、数据处理部分。

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  • ghcily

    第1楼2011/01/18

    TOC为非专属性检测方法

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  • juanbaby52

    第3楼2011/01/18

    什么叫专属性呢?还没听过,楼上的专家能否解答一下,谢谢

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  • xing-xing

    第4楼2011/01/18

    分析方法---之专属性

    专属性是毫不含糊地确定组分中预计可能会存在的分析物的能力。典型地,这些分析物包括杂质,降解产物,基质等。

    分析方法缺少专属性可以通过其它支持的分析方法来补充。

    专属性的定义有如下的含义:

    鉴别:为了确保分析物的同一性

    纯度检测: 为了确保所做的所有的分析方法可以对分析物中杂质的含量有准确的陈述,如有关物质检测,重金属,残留溶剂,等
    含量测定(含量或功效)

    为了提供准确的结果,其对样品中分析物的含量和功效有准确的陈述、

    专属性的调查应在鉴别试验,杂质和含量的测定中做。证明专属性采用的方法取决于分析方法的目的。


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  • xing-xing

    第5楼2011/01/18

    通常情况下,不可能证明某一分析方法特定专属于某一特定的分析物(完全区分)。在这种情况下,建议联用两种或两种以上的分析方法以达到必要程度的区分。

    1.1. Identification

    鉴别

    合理的鉴别试验应能够区分可能存在的紧密相关的结构。方法的区分可以通过从含有分析物的样品中获得阳性结果(可能会和已知的标准品比较),以及从不含分析物的样品获得阴性结果来区分。此外,鉴别试验可以应用于结构相似的物质或紧密相关的分析物,未获得阳性相应来证实。这些潜在干扰物质的选择应基于合理科学的判断,需考虑到可能存在的干扰。

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  • xing-xing

    第6楼2011/01/18

    1.2. Assay and Impurity Test(s)

    含量和杂质检测

    对于色谱方法,用典型图谱来证实专属性,图谱上单个组分应合理标注。其它的分离技术也应给予类似的考虑。

    应调查色谱法的关键分离(临界分离)处于适当的水平。对于临界分离,专属性应通过相邻出峰的两个组分的分离度来证明。

    若是使用的非特定的专属含量测定,应使用其它的支撑的分析方法来证明总体的专属性。例如,采用滴定方法来测定用于放行的原料药,可以联合使用含量测定和杂质的合理检测。

    对于含量和杂质检测,方法是类似的。

    1.2.1 Impurities are available

    杂质可以获得

    对于含量测定,这应包括杂质和、或赋形剂中分析物的区分的证明。在实践上,可以通过在纯的物质(原料药或制剂)中加入适量的杂质和赋形剂,并证明含量的结果不受这些物质存在的影响(通过和未加样的样品的含量测定结果比较)。


    对于杂质检测,通过在原料药或制剂中加入适量的杂质,并通过证明这些杂质逐个分离,和样品基质中其它组分也分离,来建立区分。

    1.2.2 Impurities are not available

    杂质不可得到

    如果杂质或降解产物的标准品不能够得到,专属性可以通过比较含有杂质或降解物的样品的检测结果和另外的完好的分析方法,如,药典方法或其它验证的分析方法的结果来证实。(独立程序)。适当的,这应包括在相关强降解条件下储存的样品:光,湿,酸解/碱解,以及氧化条件。

    - 对于含量,应比较两个结果。

    - 对于杂质检测,杂质的概况应比较。峰纯度的检测对表明分析物的色谱峰不是有超过一个以上组分产生的很有用(如,二极管阵列,质谱)。








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  • xing-xing

    第7楼2011/01/18

    专属性/选择性



    T分析物应不受其它无关组分的干扰,和它们有好的分离。生成并递交典型的HPLC图谱或概况以表明通过加入已知的物质或强降解样品的无关的峰和母分析物基线分离来表明。无关峰的例子如下:

    对于原料药或原辅料,待考虑的有关物质是来自合成工艺的工艺杂质(包括异构体杂质),残留的杀虫剂,溶剂,和其它的天然提取的无关组分。对于制剂,有关物质可能是存在于原料药中的杂质,降解物,原料药和赋形剂的相互作用,外源物质,如赋形剂中的残留溶剂,工艺中的残留溶剂,包装材料或工艺的滤取物,提取物。建议递交强降解原料药的数据,强降解条件应根据指南

    “建议强降解和非强降解样品的HPLC图谱,包括杂质、防腐剂的检测方法。HPLC图谱应指明高于检测限/定量限存在的杂质。图谱应是清晰可见的,标注的,注明时间。

    Points to note are as follows:

    注意点如下:

    母峰可能会变长,如增加浓度,使得可以在合理的尺度下观察到无关的峰来表明稳定指示性。见检测限定量限下的评论。

    .

    基线应在刻度以内,因为刻度范围以外会隐藏小峰。峰的纯度可以通过光电管二极管阵列检测器测定。

    当使用强降解样品,应选择适当的检测器。如,能够检测低含量的杂质,如0.1%的降解物,母峰应有合适的大小,至少可以检测0.1%或面积量可行。

    建议

    强降解和非强降解样品的典型的HPLC图谱应递交,包括杂质的检测方法。通过加入已知的无关物质表明选择性的典型图谱也应提供。

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  • fan_wenyu

    第8楼2011/01/19

    做水或土壤中的总碳的。

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  • 追风男儿

    第9楼2011/01/19

    我们只做过验证、检验,没做个这个

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  • 面对面想你

    第10楼2014/05/12

    先要弄清楚楼主说的TOC仪是总有机碳测定仪,还是其他?

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