扫描探针显微镜SPM这个仪器能分析粉未吗？

AFM分析粉末，不仅能定量的得到纳米颗粒的分布曲线，还能对某一个特定的颗粒进行尺度分析。AFM比较粒度仪而言是不仅可以得到统计值，还可个别特定分析；比较EM而言，AFM在Z方向的精确度要高很多。

可以参考我们一些用户做这方面实验的论文：

http://www.inano.net/infomanager/GB/147.htm

http://www.instrument.com.cn/download/search.asp?keywords=%B0%AE%BD%A8&sel=providercompany&SN=&Submit=%C1%A2%BC%B4%B2%E9%D1%AF