XPS及其它能谱仪
lelenjj
第1楼2006/01/17
可能不行,
piaomao
第2楼2006/01/25
要看你的显微镜的透射尺寸,我原来做的那台是5微米左右,偶得薄膜还要薄呢,只有几十纳米,所以也不能做:(
highpower
第3楼2006/02/03
几个微米厚的薄膜应该可以吧,不过准确定量可能不太容易。
yjliu
第4楼2006/02/03
我感觉比较困难,电子束很容易把这么薄的样品损毁的。
太空大象
第5楼2006/03/03
几个微米应该可以的,纳迷就不行了
xiaomage2005
第6楼2006/04/14
可以分析,我的薄膜也是很薄,而且是非晶的,XRD无能为力,只能靠EDS和XPS了。
zhuyongfa
第7楼2006/04/15
一般SEM中EDS的X射线作用区域大小在0.5到1微米左右,因此,假如膜层在几个微米进行薄膜成分分析是没有问题的。假如薄膜很薄,也可以进行成分分析,但要考虑基地元素对你测量信息的影响。
shengyun
第8楼2006/04/19
我觉得可以进行eds分析,首先要确定这很薄的膜层是有机材料还是无机材料,如果是有机材料,建议你就不要进行eds分析了,如果是无机材料还是可以考虑一下eds的.
xlbmcr
第9楼2006/06/18
完全可以,要根据膜层是有机材料还是无机材料,选择合适的加速电压和束流.
wbsyz
第10楼2006/07/04
可以的
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