扫描电镜(SEM/EDS)
asahi42
第1楼2011/05/11
您是用冷场还是热场?电子束需要击穿有机物层打在颗粒上,所产生的二次电子又需击穿有机物层被二次电子探头捕捉到,这么一来回,颗粒边缘肯定很难拍清楚的。如果您的颗粒原子序数够大,同时不需在意有机物的完整与否,为了看清颗粒边缘,就用高加速电压打吧~
laomomo9
第2楼2011/05/11
谢谢了。我用的是冷场,就是不清楚表面有有机物的颗粒拍不清楚的原因。
第3楼2011/05/11
LZ方便的话,上个图来瞧瞧?
fengyonghe
第4楼2011/05/11
既然已知是有机物,一定是碳氢化合物为主,必须用低加速电压和较小的探针电流。例如碳在20KV激发深度是 4.8 μm ,而在1 KV是26nm。
第5楼2011/05/11
他不在意有机物是啥,只是想看清楚被有机物包覆的颗粒~
第6楼2011/05/12
我有看清楚的没有有机物的图,但是我想知道有机物在被冷场作用下没有被看清楚的原因,也就是有机物和电子有什么作用或者其他什么原因而看不清楚。
小M
第7楼2011/05/12
有机物是经不起电子束打击滴!
第8楼2011/05/13
为什么捏,能不能给个专业点的解释。
第9楼2011/05/14
到现在还不知你用的加速电压是多少,二次电子像虽具表面比较近,但还是有一定深度的,最表面的有机物不是二次电子像的最佳成像面。用低加速电压有利于成像更接近表面,你可以不断地降低加速电压比较不同加速电压下的有机物清晰度。表面有机物的二次电子产额很低对加速电压更敏感。但无论如何二次电子像的成像深度也有5-50纳米,不可能完全成像在有机物上。这是与光学显微镜完全不同的概念。
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