双检测器校正

SEM通常提供脉冲(pulse-counting)与模拟(analog)两种计数模式。当计数超过某个阈值(200万或者500万cps，可由仪器厂家设定)，就从脉冲切换到模拟模式。例如：PerkinElmer公司Elan系列Q-ICP-MS，其SEM有26个打拿极，pulse-counting mode使用全部26个打拿极进行倍增，当计数超过200万cps，切换为analog mode，只用前13个打拿极进行倍增。

Pulse-Analog Cross Calibration，PerkinElmer公司称之为Dual Detector Calibration。P-A校正的实质是：拟合脉冲(0-10⁶ cps)与模拟(10⁴-10⁹ cps)这两段线性量程，现实9个数量级的动态线性量程。最好3-4天做一次。

校正一般是在灵敏度不高而又非其它原因，如进样系统污染，矩管，椎体污染，椎体中心孔未对齐，等其它因素，通过增加电压的方法对检测器进行校正，一般为50V/次，但不可盲目增压， 当到一定电压后灵敏度降低就可能要换检测器了。

双检测器校正和电压有关吗？比如，调整脉冲电压或模拟电压是否要重新校正？

调整过脉冲电压或者模拟电压之后当然要重新校正。

如果灵敏度足够，检测器电压无需增加，只做P-A校正即可。
如果增加检测器 pulse或 analog电压，肯定要重做 P-A校正；