项目 | 波长色散型 | 能量色散性 |
原来 | X荧光经晶体分光,在不同衍射角测量不同元素的特征线 | X荧光直接进入检测器,经电子学系统处理得到不同元素(不同能量)的X荧光能谱 |
结构 | 未满足全波段需要,配置多块晶体,根据单道扫描和多道同时测定的需要,设置扫描机构和若干固定通道 | 无扫描机构,只用一个检查器和多道脉冲分析器,结构简单得多,无转动件,可靠性高 |
X-光管 | 高功率,要高容量冷却系统,管寿命短 | 低功率,不许冷却水,管寿命水 |
检测器 | 正比计数器,和λ,晶体,检测器有关 | SI(LI),用LN冷却 |
灵敏度 | μɡ∕ɡ级 | 轻基体μɡ∕ɡ级,其他10-10²μɡ∕ɡ级 |
准确度 | 取决于表样 | 取决于表样 |
精密度 | 很好 | 低浓度时不如WD |
系统稳定性 | 需作周期性漂移校正,定期工作曲线 | 好,工作曲线可长时间使用 |
方便性 | 一般 | 好 |
分析速度 | 单道慢,多道快 | 快 |
人员要求 | 较高 | 一般 |
样品表面 | 要求平坦 | 要求不高 |
价格 | $18-45万/台(其中单道扫描$18-25万/台) | $6-11万/台(其中娇小型的$6-7万/台) |
测定元素范围 | Z≥5,B-U | Z≥11,Na-U,特殊薄窗时可Z≥8,O-U |