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有关质谱的一些问题

气质联用(GCMS)

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  • 有关质谱的一些问题:GCMS-Qp2010
    1. 为什么质谱中全质量范围内的半峰宽都相等及任何质量M的半峰宽是M是恒定的?

    2. 如何查看和调整质谱存在质量歧视效应?

    3. 如何查看和调整质量轴的稳定性?

    4. 如何提高离子化效率?.

    谢谢!

princefield 2011/12/12

1.△M恒定并不是绝对的,它有一个波动范围,只要不超过0.1aum就是可接受的,△M的稳定通过调谐来实现,时间长了要重新调谐,一般每周一次,否则△M很可能超过0.1aum。 2.这个应该是通过调谐来实现的吧,也许还有更高级的做法,但这个我就不是很懂。 3.这个不知道,因为我没听说过有实时监测质量轴的稳定性的功能。 4.这个增大检测器电压可心实现了。

蓝是那么的天 2011/12/12

好像没听说半峰宽是恒定的把,即使是调谐结果也可以看出69,219的半峰宽也不一定相等,要知道在调谐之前是设置过半峰宽的。 质量歧视的话好像我们能做得就是调谐,其他的好像要交给工程师。 质量轴的话可以进一针YY看离子碎片。 清洗离子源好像可以提高离子化效率,检测器电压和离子化貌似没什么太大关系,EI源的电离电压是恒定的70EV。

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  • princefield

    第1楼2011/12/12

    1.△M恒定并不是绝对的,它有一个波动范围,只要不超过0.1aum就是可接受的,△M的稳定通过调谐来实现,时间长了要重新调谐,一般每周一次,否则△M很可能超过0.1aum。
    2.这个应该是通过调谐来实现的吧,也许还有更高级的做法,但这个我就不是很懂。
    3.这个不知道,因为我没听说过有实时监测质量轴的稳定性的功能。
    4.这个增大检测器电压可心实现了。

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  • 蓝是那么的天

    第2楼2011/12/12

    应助达人

    好像没听说半峰宽是恒定的把,即使是调谐结果也可以看出69,219的半峰宽也不一定相等,要知道在调谐之前是设置过半峰宽的。
    质量歧视的话好像我们能做得就是调谐,其他的好像要交给工程师。
    质量轴的话可以进一针YY看离子碎片。
    清洗离子源好像可以提高离子化效率,检测器电压和离子化貌似没什么太大关系,EI源的电离电压是恒定的70EV。

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