弱弱的问关于ATR的几个问题，求高手指教！

不知道你的是一次衰减还是多次衰减的装置。按我的理解，使用多次ATR时样品面积应该大于晶体面积，比如薄膜或固体粉末。因为入射光线是在晶体上多次反射后来采集样品信息，然后进入检测器的，如果样品面积小了有可能某部分没有样品造成采集的信号不准。
红外仪器最怕潮湿，有的附件装进去后样品室的盖子就不能盖严了，如果你的附件体积小能盖严应该是没什么问题的。
至于谱图校正，还是要具体问题具体分析吧。这个我就说不太好了。
个人拙见。

看用的频率吧，用得不多就取下来。

楼主做过ATR校正么，校正前和校正后谱图有什么区别

ATR校正得知道入射角、晶体材质、反射次数以及样品的折射率；而且感觉校正完的谱图毛刺会比原始谱图多；如果不是跟其他方法的谱图对比，不校正更好些。

我们也经常使用ATR附近做样品：
我觉的:
1、做ATR时样品要尽量覆盖住或者压在晶体上，因为它的折射只有晶体表面的10um厚度，最好大于晶体表面；还有样品的折射率与晶体的折射率相差越大做的图也越好。
2、这个问题我也有点纠结，不过我感觉还是取下来比较好些；因为原因之一是原附件内有放置干燥剂，对仪器会更好些；但是这样经常性的装装卸卸我有点担心会不会对接触口不好。
3、做完ATR样品，我们一般都会做一下高级ATR校正，这个还是有必要的，否则有些峰会差别好多，对分析会有影响；还有，ATR样品高频区变弱，低频区变强，这也需要校正。

1.样品最好大于晶体面积，有的时候是样品接触面积大，信号强一些，有的时候是有些ATR压样品的本身就是有机物质，如果接触到晶体面，就会有吸收，会干扰要测量的物质
2.如果仪器房间能保证非常干燥，那么可以长期存放。否则潮湿的空气会从一些地方涔进仪器内部
3.我一般不校正，因为自己一般能够判断。如果是为了更好与数据库比较，那就校正一下。

这个校正和积分一样么？

什么积分?
校正无非就是因为ATR出的谱图中高波数位置吸收偏弱, 低波数偏强,这主要是因为红外光在高波数位置渗透深度浅,低波数渗透深度强

明白了，谢谢，另外我也说错了，是导数，应该是微分，都是谱图处理的一些方法