请教关于饱和的问题

饱和就是暴光过度了,采用CCD和CID半导体检测器的仪器都有这个问题,你可以将暴光时间放短或将样品稀释后再测.

说的不错，你再重新调整一下试一下

还有一种可能性，就是你的样品冲洗时间太短了，仪器在捕捉数据时不稳定，导致出现“*”号的情况，你只需增加样品冲洗时间就OK了。

饱和现象肯定有，但有时曝光时如果无样品输入也会显示饱和。我用的是PE2000的仪器，可以选择不同的观测方式，比如垂直和衰减等，可以避免稀释的麻烦。

那曝光过度 有没有一个范围 比如说曝光强度达到多少仪器显示饱和

据热电的工程师讲，饱和的现象很少，1000mg/L的样品都不会出现饱和的现象，只是浓度越高样品冲洗的时间就需要得越长，冲洗时间不够的现象和饱和的现象是一样的，所以我们所说的饱和很多情况都是样品冲洗时间不够的原因。

由于不同波长的灵敏度不一样，所以光强不一样，对于PE仪器，一般饱和的上限强度可能是百兆数量级。
解决办法有：降低曝光时间（PE仪器对于不同元素可以允许不同的曝光），改为测向观测方式，选择不灵敏的分析线。最后选择是稀释。以上几个方法可以结合使用的，我想浓度不是太高，应该满足要求，不用稀释。

littlejie 发表: 请问各位大虾 测量时 结果给出的数据显示饱和 是不是不同的ICP它都有一个强度的上限 那这个上限强度大致是多少 跟波长有关吗
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你可能没有领会别人的意思。你如果选择的是灵敏线，浓度又很高，积分时间不短，能不饱和吗？1000mg/L的样品都不会出现饱和只是对那些不够灵敏的分析线而言的，不能一概而论。

我明白了 那请问饱和对仪器有影响吗