zoulong23026
第4楼2013/05/29
我发现楼主提出一个很好的问题,不知是否已经解决? 最近我对SPME的基质定量困扰,请分享。
我个人这么想的,残留分析中经常用到基质校准曲线,需要空白基质。可实际上很多样品很难获得空白基质,特别是SPME分析,即使获得,往往性质差异大。我的想法和楼主的法二类似但又不同。
我直接用基质(不是空白基质)来配制一系列的标准溶液,加入不同量C的标准,同时内标加入量恒定。测定没有加标的基质样品 和上面配制的标准溶液。可以得到没有加标的基质样品目标物面积S1和内标面积IS1,和一系列的标准溶液面积S2和内标面积IS2。这时,所有的标准溶液面积,要扣除校准的背景面积,即S2-S1*IS2/IS1,得到新的面积S2'。 然后以S2'/IS2 的比值为Y轴,标准溶液的添加浓度C为X 轴得到校准曲线。 线性还不错 0.9989 范围 0.001-5 ppm
这个方法很像空白校准曲线,就是理想的把基质中不是空白的那部分面积等比例的扣除了。
目前没找到有文献报道这样的定量方法,我也不知道哪里有问题和它的可行性? 请高手指点分享。