扫描探针显微镜SPM/AFM
wangshuoleon
第1楼2012/07/20
谁来教教我用afm做石墨或者云母的原子像,这个学期的实验任务刚刚完成,正好有一段空闲时间,之前我们这里一直做液相实验,从来没有达到过原子级分辨率。nanoscope 3a的仪器,e扫描头
littlebean
第2楼2012/07/20
[quote]原文由 wangshuoleon(wangshuoleon) 发表:谁来教教我用afm做石墨或者云母的原子像,这个学期的实验任务刚刚完成,正好有一段空闲时间,之前我们这里一直做液相实验,从来没有达到过原子级分辨率。nanoscope 3a的仪器,e扫描头。换一根更细的探针试试看~云母貌似晶粒很小。多尝试几次,用不同的参数扫描一下。原理上AFM的分辨率可以达到0.1nm的。
第3楼2012/07/21
你以前扫出来过吗?我觉得可能不是针的问题,我得到的图像老是一块白板,我看到有的资料说,要用开环模式才能得到原子像
第4楼2012/07/23
我自己没有扫描过云母片。按道理开说是必须要用开环模式才可以,因为闭环多了一个位移传感器,带来的噪声很大,基本上测试不到原子级别的。我木有云母片啊,我想试试看也没办法啊~你切换到开环试试看。
第5楼2012/07/23
恩,刚刚在网上找到了一个教程,不过我马上就要放暑假回家了,下个学期来了再试
第6楼2012/07/24
好滴,暑假快乐~当学生真好啊~
zjjfxk
第7楼2012/07/24
您好~非常希望能与你详细讨论一下如何用afm的pfm模式做出铁电材料的电畴特性出来。不知道您是否方便解答一下我的这个问题?
第8楼2012/07/25
你好,因为我没接触过铁电材料,所以在这方面的知识暂时还是空白的。不好意思啦。不过没关系,因为我帮你下了个论文。你看完就完全明白啦~
hrxspm
第9楼2012/09/25
你好,我想了解一下原子力显微镜能不能测量样品的膜厚度?对制样有没有什么特别的要求?
第10楼2012/10/05
可以测试膜层表面的结构,就是表面形态表征。测试出来的高度是相对的,就是膜层表面的凸起和凹陷的相对差。请问是什么膜层呢?如果是镀上去的膜层,建议在镀膜前用高温胶带贴住,然后镀膜后再撕掉胶带,然后可以测试边缘的相对差。但是测试结果跟你用的高温胶带的边缘整齐与否有很大的关系。最好的方法是切片,截面做SEM测试。
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