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四探针测试金属银膜不稳定的情况

分子荧光光谱

  • 四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢
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    +关注 私聊

  • notell

    第1楼2012/08/31

    貌似不是荧光的问题，搞错了地方？

0
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  • g9g9g9

    第2楼2014/01/10

    什么原因？为什么？求大神

0
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  • m3329580

    第3楼2017/11/24

    电阻率与温度，压力，材料相关啊

0
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