[求助]ICP-MS做纯金属中的杂质Si

硅是阴离子，怎么用ICP来作？？不清楚呀，赐教！！我们都是用UV-VIS作的

ICP-MS测Si误差较大，如果半定量结果可以接受的话，还是可以考虑的。

不过ICP-MS测微量元素还是有它独特优势的。

ICP-AES 是可以測量部分非金屬的 如Si B 等

ICP-MS有没有对Si进行定量分析的成功案例？是很难还是根本就不可能准确定量？这个问题我没搞清楚，请大家指点一下。

hehe 难度大吧 ，是相当难，检测限很高，是ppm吧，硅需要氢氟酸来消解，一般来说，这种酸是不能直接上机器的，故不看好硅，卖仪器的是什么都能做，呵做技术服务的就不一样了，会告诉你哪些能做，那些不能做，做硅最好是XRF

我用ICP-MS做过Si，用CCT。刚开始老是调不好，后来调好了，做几十个ppb也还可以，不过调CCT要一点经验。

回复一个朋友的提问。我测Si是用的热电X系列的ICP-MS，CCT，标准曲线的配制为0、10、20、50、100ppb，选的Si28、29，CCT的气为氢：氦（1：7），调CCT时严格按随机的操作指导进行。Si28r0.99897,斜率约400，检出限为0。21ppb。Si29的相关系数只有0。9022，所以没用它。（供讨论，我也吃不准用Si28可行不）