孚光精仪
第6楼2017/08/04
这款非接触式3D形状测量仪是采用Optical Comb光梳技术的3D表面形貌扫描仪,非常适合结构复杂工具表面形貌扫描和尺寸测量
非接触式3D形状测量仪特点
行扫描范围为80mm。
深度范围在几秒钟内130mm。
具有超高的扫描准确性和速度。
非接触式3D形状测量仪基本规格
Z轴精度:10μm(平均分辨率为1μm@0.1msec)
深度范围:130mm
行扫描范围:80mm
工作距离:140mm(距离被测物体的距离)
行扫描测量速度:18mm / sec
非接触式3D形状测量仪可以测量复杂和复杂的形状
使用红色光导来突显测量线。
可以测量我们的光源可以反映的地方。
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孚光精仪
第7楼2017/08/04
这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数,获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
这款薄膜厚度均匀性测量仪具有较长工作距离,工作距离可调,超大样品台,可选光源等特点。
薄膜厚度均匀性测量仪特点
易于安装
软件基于Windows系统,方便使用
先进光学设计,良好系统表现
阵列光谱探测器保证快速测量
测量薄膜厚度和折射率高达5层
可测量反射,透射和吸收光谱
可用于实时在线的薄膜厚度和折射率测量
具有齐全的材料光谱舍数据库
可升级到显微分光光度计
适合不同衬底和不同薄膜厚度测量
薄膜厚度均匀性测量仪参数
波长范围:250-1050nm
光点大小:500um - 5mm
样品大小:300mm 直径
衬底厚度: 高达50um
测量薄膜厚度范围: 10nm -50um
重复定位精度:1um
测量时间:最小2ms
精度:0.5%
重复精度:<1A
薄膜厚度均匀性测量仪应用
半导体制造
液晶显示屏测量
刑侦
生物膜测量
矿石地质分析
制药医学分析
光学镀膜测量
功能薄膜MEMS测量
太阳能电池薄膜测量
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孚光精仪
第8楼2017/08/04
这款薄膜雾度测量仪适合玻璃或硅晶圆衬底上薄膜总透过率测量和薄膜漫透过率测量,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而测量雾度值,测量光谱范围为400-900nm.
薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要。这款雾度测量仪通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。
这款雾度测量仪采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,这款雾度测量仪还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
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