2013年5月23日网络会议:三维光学显微镜在半导体和LED表面测量中的应用

三维光学显微镜在半导体和LED表面测量中的应用

主讲人：黄鹤 布鲁克公司 应用经理

活动时间：2013年5月23日 上午 10:00

1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。

2、参加及审核人数限制：限制报名人数为120人，审核人数100人。

3、报名截止时间：2013年5月23日上午10:00

4、报名参会：

5、参与互动：本次讲座采取网络讲堂直播模式，欢迎大家积极发言提问。
*参会期间您还可以将有疑问的数据通过上传的形式给老师予以展示，并寻求解答*
每次会议从提问的用户中随机抽取出一名幸运之星，奖励一个价值150元的耳机。
6、环境配置：只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。

7、提问时间：现在就可以在此帖提问啦，截至2013年5月22日

8、会议进入：2013年5月23日9:30点就可以进入会议室

9、开课时间：2013年5月23日10:00

10、特别说明：报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程)，请注意查收，并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过，请填写完整而正确的信息哦~

注意：由于参会名额有限，如您通过审核，请您珍惜宝贵的学习交流机会，按时参加会议。如您临时有事无法参会，请您进入报名页面请假。无故不参会将会影响您下一次的参会报名。

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