请问上照式xrf一般采用什么样的接收探测器啊

SDD 的

主要是看你目前的应用 无论是啥样探测器满足比就好 目前看来你说的两种探测器是edx和wdx之间有差的哦 不好意思打错了 十分抱歉

应助达人

EDX还是WDX啊？WDXRF的分辨率不是靠检测器，而是靠布拉格反射分光的。

EDX现在还在用正比计数器的，除了珠宝行业的简易EDXRF，很少有用正比计数器的吧。大多是半导体检测器，有Si-PIN，Si(Li)，SDD等，实际分辨率大约在140eV～250eV（5.9keV）之间。

有错字吧？不带骂街的啊！

修改一下吧！

这两者之间有联系吗?EDX硅探测器或锂漂移硅探测器，WDX正比计数器。

您的仪器可以随意更换探测器？不是很懂，让您见笑了！

如果要提高计数率 最好使用SDD的探测器，成本相对要高点

仪器是上照式还是下照式和用什么探测器没有关系.主要根据你仪器的设计需求来定的,记数率的大小与你所使用的光管功率,准直孔的大小,探测器的面积,探测器信号的成型时间和匹配的多道处理有关,

探测器类型:

1,计数管,分辨率不好,但是窗口面积大可以在几百mm^2,配置好的对应处理电路可以达到很高的记数率,一般在EDX里面用于贵金属测试和镀层测试都配密闭型的,记数率可达几万,在WDX里面比较常见,配流气的.记数率可达百万级别.

2,si-pin探测起，分辨率一般,窗口面积一般在6-30mm^2范围,多用于EDX的常规测试,一般不测试轻元素,范围在K-U,记数率一般在几千-几万左右.

3,SDD探测器, 分辨率好,窗口面积一般在6-30mm^2范围,多用于EDX的高端测试,可测试轻元素,范围在K-U,记数率一般在几万-几十万.如果窗口配聚脂膜的窗口的话.轻元素透过率增加,可以测试到F,由于其窗口比较容易破损和市场需求的关系,现在用的比较少.

本人对XRF有一定的了解，有应用需求,机器故障,或者是购买机器有疑惑的,学校或者科研机构做X荧光研究的,发信息给我共同交流,.大家一起学习,共同进步.

补充下SDD的测试范围Na-U,上面写错了