为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？

你们做的压片有多厚啊？

无限厚之后特征X荧光就不会再增加了啊。

多厚？各个元素含量多少，Sb变化多大，样品信息如何？

主要是你的样品没有达到无限厚度，各元素的无限厚度不同，至于样品中每种元素每条谱线的无限厚度可以进行估算

我觉得有点问题吧，既然是压片测定的，还随着厚度增加而增大，那应该不会是很薄的样品吧。再说，“还随着厚度增加而增大”不一定是规律吧。

首先明确两个问题：

1、你用的仪器是能量色散，还是波长色散？测量的是K线系还是L线系？
2、样品是什么材质的？

谢谢大家。厚度超过一定大小后测量值基本不变了。
能谱仪，K线测量，Al、Si催化剂中1000~3000ppmSb

原子序数较低的元素（或基体）对能量较高的谱线吸收系数较低，因此无限厚度也就大一点

Sb的K线能量较高，能穿透更厚的样品（相对本样品中的其他元素的特征射线），所以饱和厚度也就比其他元素厚。