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我们需要检测碳化钨（钨粉）中的杂质作为生产质量控制，用热电的AtomComp 2000的优点在于试样无须前处理，而用ICP的话就需要微波消解装置了

其他仪器综合讨论

  • 我们需要检测碳化钨（钨粉）中的杂质作为生产质量控制，用热电的AtomComp 2000的优点在于试样无须前处理，而用ICP的话就需要微波消解装置了，但ICP是否对W的谱线太复杂而造成干扰严重？请教一下用何种仪器比较合适？谢谢！
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  • 第1楼2003/11/27

    请参考2001年第三期《冶金分析》“钨及其化合物中杂质元素分析方法进展”一文。

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