icp-aes测试地矿样品中痕量pb如何提高灵敏度？

应助达人

明显的基体干扰，采用基体匹配或标准加入法做。

请问下基体匹配具体如何操作，大批量的样品，一天需要做4、5百件，标准加入不太现实啊

[quote]原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:你谱线选择168nm那条 最灵敏线 试试看呢

是PE的机器吧？
谱图右侧有大峰干扰，看看右侧是什么元素在干扰，可以用MSF方法消除影响。

ICP_AES做到0.2ppm还是可以的。
从你的谱图来看，在测试样品时，右边有一个很大的干扰，背景上扬，是否可以采用单边扣背景？
由于地质样品基体比较复杂，做到完全的基质匹配也不太现实。

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168nm的属于紫外区的谱线吧，紫外区的还没试过，太费气了

是pe的，msf只是看到仪器上有这玩意，一直没用过，刚接触这个，工程师也没讲那个

用标准曲线反测标准，勉强可以达到，不过误差都挺大，强度太低了，测样品根本就不行了

前些天我一个同事做首饰，也遇到类似你的那种情况，后面背景漂的很厉害