关于STEM和TEM下位错称度的问题

你说的上下两段文字说的不是一个事情。
上面说的偏移矢量s是TEM衍射衬度成像的一个参数，跟电子coherence没有什么关系。
下面说的TEM和STEM的比较是那么回事，但是跟位错衬度差别的关系不是那么回事。下面说的TEM是对HRTEM或者其他的相位衬度TEM来说的。
而通常在TEM里头观察位错，确定b矢量，最有用的还是衍射衬度（明暗场成像），HRTEM对未知的位错成像几乎起不到什么大的作用。

可以参考W&C的电镜书的26,27两章（TEM位错），以及这个文献（HAADF 位错衬度）Perovic, D. D., Howie, A. & Rossouw, C. J. On the image contrast from dislocations in high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy. Philosophical Magazine 67, 261–282 (1993).
另外，pennycook的书也有很多理解STEM衬度的基本理论。

谢谢你的回答！那请问我上面说的哪个问题，为什么对于STEM, TEM下位错称度相对s的变化更为敏感？

这主要是由于STEM和TEM 的工作原理的不同，s是倒易情况下得一个参数，主要适用于平行或者近平行光条件下

STEM比较类似扫描，用的是会聚束，在样品上进行逐点的扫描，所接收到信息反映的立体感比较强，但是对于内部的结构的微变化或者是局部畸变并不明显

TEM则用的平行光或近平行光模式，所获得信号对于局部的畸变反应比较明显