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请问一下,有关X射线衍射强度的问题

X射线衍射仪(XRD)

  • 我在用pdfwin搜索Al2O3 时,有二十几张卡片的衍射峰位置都一样,只是相对强度有变化。老师说根晶体的择优生长有关
    我不明白的是,如果在(100)的衍射峰上强度比较大,晶体是(100)对应的晶面长得比较“大”,还是在垂直于(100)晶面的方向上长得比较“厚”?
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  • XRD

    第1楼2006/07/26

    粉末衍射仪采用THETA-2THETA方式扫描时,产生反射的是那些平行于样品表面的晶面。如果某个面(如100面)的反射强,表明这种面平行于表面的晶粒多,或者说,大多数晶粒的(100)面都朝着表面。最极端的情况是,所有晶体的(100)面都朝着表面,这就是单晶的情况,用粉末衍射仪来扫描全谱时,只有(100)面的反射,其它面的反射全部等于0。
    至于是面广还是轴长,这好象不太好说吧。好象不能表达这层意思。
    对于一般的多晶来说,反射强(反常的强)的面不止一个,也就是可能存在几种取向。也就是说,同时存在几种织构。
    普通扫描方式要表达这种多晶的择优取向,可以参考李树棠老师的教材,用“极密度”来表示。

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  • gtclulong

    第2楼2006/07/26

    多谢了。看来我得去补习一下基础知识了,接触XRD没多久,好多东西都不知道

    还想再问一下,能用粉末XRD的数据得出过晶胞中原子的三维坐标吗?我在一篇论文(附件)上看到过,用“粉末XRD”+“Raman 光谱”+“红外透射光谱”搜集数据,然后用n多软件处理,最后得到了一个(包含60个独立原子的)晶胞中每个原子的“坐标”。不知道难度有多大,处理数据大约得多长时间……
    X射线粉末衍射法测定未知晶体结构.pdf

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  • XRD

    第3楼2006/07/26

    是的,可以,这是目前比较热的一个问题。利用多晶X射线衍射方法测量样品的X射线谱,然后,采用一些目前比较热的方法,如Rietveld方法来拟合X射线谱,再加上其它的一些资料,可以给未知物相进行指标化和结构精修。不过,我也没有做过,只是道听途说而已。你可以看看这个帖子中的附件。
    http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20060724/492629/

    这是我们国内的董成先生做的一个PPT,看过以后就明白是怎么一回事了。不过,真正做起来可就难了啊。

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  • gtclulong

    第4楼2006/07/29

    谢谢
    我已经下载过了,只是还没看
    还是先回去看看书吧

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  • dinosaurwu

    第5楼2006/07/30

    是啊,Rietveld我也一直想学的

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