timstoicpms
第1楼2014/03/29
首先,在G7200B软件上能找到 HMI 低/中/高盐分析时的预设参数:射频功率、载气、稀释气、透镜参数均有所不同——不能简单地把 HMI 等同于气溶胶稀释。
其次,随着盐度增高,雾化器的载气流量会降低,造成样品进样量降低,你看到的“表象灵敏度”也在降低。我在这篇帖子《从进样方式谈ICP-MS的灵敏度》 http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20110527/3332501/ 中讨论过,要引入“单位灵敏度”的概念,即 xx万cps/ pg物质,扣除进样量的影响,。
最后,耐度与检出限,鱼和熊掌不可兼得,不可能在1%~3%盐度中仍然把检出限做到ppt级别。ICP-OES做高盐样品测试时,通常会配上氩气加湿器:使载气润湿、同心雾化器尖端不积盐;有时还会用标准加入法,使结果更准确可靠。
光哥
第6楼2014/03/31
干气溶胶稀释有个好处就是不必引入过多的溶剂,
虽然有这个好处,但是无论如何都要先通过雾化器的。这也是个瓶颈点吧。
巴冰顿的雾化器耐盐分比较高,但是雾化效率却低了不少。个人觉得,总的来说如1#所言,最终还是得综合考虑“单位灵敏度”。
gz07apple
第7楼2014/03/31
你有误解,这里说不必引入过多溶剂,与雾化器无关,针对等离子体而言的。溶剂稀释后,雾化器雾化的气溶胶肯定溶剂(如水)比例增大,影响到ICP温度和待测元素解离效率,而干气溶胶稀释用Ar气则不会。
巴比顿雾化器,当然耐盐能力较强,但还是牵扯到灵敏度下降的问题,所以看你怎样取舍了,比较来说,HMI相对合算一些。