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请问AFM原理小问题?

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 各位,小弟想问一下AFM在TAPPING模式下,工作时探针有没有和样品表面接触?还是它们之间保持一定的距离?斥力和吸引有的距离临界是多少??
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  • mans

    第2楼2006/09/02

    能否详细介绍一下它的工作原理??

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  • bme81

    第3楼2006/09/20

    轻敲模式,通过与样品表面原子斥力引力作用造成探针悬臂弯曲,从而激光束偏移,
    可以看前面有帖子的相关原理介绍

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  • ifish

    第4楼2006/09/21

    不过有时候觉得力大时仍会接触上的

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  • mitchie

    第6楼2006/09/26

    我认为接触二字在微观上已经失去了它本来的含义,我感觉不大好解释,因为在纳米尺度上的引力斥力可以说成是宏观上的接触或者没有接触,如果小弟非要结果的话,只能说有时候接触有时候不接触。

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  • 小石头

    第7楼2006/10/11

    我还是认为没有接触,AFM 探针震动不就是所谓的接触力吗?当然如果样品表面比较脏,那针尖还是会被污染,那就接触到了。
    请指教!

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  • OGC

    第8楼2006/10/27

    一般情况下是不会有接触的,有接触的话只能代表你的样品表面粗糙度过大了,有可能会造成针尖污染或者断针的

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  • nmrtech

    第9楼2006/11/09

    首先搞清楚tapping是什么意思,当然是有接触的啊。原子力显微镜可以在三种模式下工作:contact, tapping, non-contact。 tapping是介入前后两种之间的,在每次振动周期期间都会跟样品有短暂接触,而接触的时间取决于样品的硬度。对于硬的样品,探针与样品的接触就像一个脉冲,时间短而作用力大;对于非常软的样品接触时间可能会很长(跟振动周期比),但是作用力会小。就是说对于其它一切参数都不变的情况下,仅仅是样本的硬度不一样,接触时间×接触力=常数,你可以查到一些相关文献,我自己做过数值模拟,得到同样结论。
    如果你工作在震动模式,想要工作在non-contact的范围,可以看相位,如果随gap变小相位反相了,就进入了tapping的工作区域,之前则在non-contact范围。不知道我这样描述清楚不?

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