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读谱图(岛津EDX720)碰到的问题!

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 各位大侠,我在用岛津EDX720时,用FP法做金属时碰到Cd值很高,但却在谱图上看不到有一点Cd的峰,这怎么解释!那位大侠用岛津720时,有没有碰到这样的问题,请指教,非常感谢!!
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  • george

    第1楼2006/09/07

    样品是什么基材的?

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  • 天枫

    第2楼2006/09/08

    对,请问你是用什么基材的?设置方面是否正确?

    george 发表:样品是什么基材的?

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  • jesse862

    第3楼2006/09/08

    一般FP法不测Cd及Hg,只测试Pb及Cr
    在建立FP法条件之前,需先用“定性-定量”扫描出材料构成元素,若里面含有Sn的成分,那么测出的Cd值往往高的离谱。因为Cd谱线会受到Sn谱线干拢。

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  • 天枫

    第4楼2006/09/09

    在金属里面还会受到铅的干扰,看看你的测试样品里面的铅含量是否比较高。

    wentao_1023 发表:一般FP法不测Cd及Hg,只测试Pb及Cr
    在建立FP法条件之前,需先用“定性-定量”扫描出材料构成元素,若里面含有Sn的成分,那么测出的Cd值往往高的离谱。因为Cd谱线会受到Sn谱线干拢。

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  • 049403

    第6楼2008/10/11

    各位高手。我单位用的是岛津EDX720.刚卖的.现在好多地方不明白.请教各位高手,我们现在做电子产品中的电子元件的检测.现在我经常会碰到像电容,电阻之类的电子元件.请问,我应该用什么方法去做.用FP法还是标准曲线法(即检验线法),但电子元件那个东东是没有标准物质的,现在不知道怎么做了.是不是还有别的方法可以做电子元件.还有像通过定性分析样品发现该组成十分的复杂,如一些铝合金,应该选用什么方法,谢谢!!

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  • keylua

    第7楼2008/11/26

    有干扰,问岛津的工程师应该可解决

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