X射线荧光光谱仪（XRF）
X荧光
第2楼2007/07/24
FPM 的英文全称为fundamental parameter method，中文意思是基本参数法，是XRF上用的一种基体校正方法。 基本参数法是应用荧光X射线强度理论计算公式及原级X射线的光谱强度分布、质量吸收系数、荧光产额、吸收限跃迁因子和谱线分数等基本物理常数，通过复杂的数学运算，把测量强度转换为元素含量的一种数学校正方法。基于少量标样的基本参数法，最终结果也可以达到很高的准确性；甚至不用标样也可以进行计算。 再要知道更具体的内容可以联系我，81029320@sohu.com.
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