【序号】： 1 【作者】： C. J. Powell 【题名】： Formal databases for surface analysis: The current situation and future trends 【期刊】： Surface and Interface Analysis, Volume 17, Issue 6, Pages 308-314 (June 1991)http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.740170603/pdf 【全文链接】：http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.740170603/pdf
【序号】： 2 【作者】： Horst Niehus, Ralf Spitzl 【题名】： Ion-solid interaction at low energies: Principles and application of quantitative ISS 【期刊】： Surface and Interface Analysis, Volume 17, Issue 6, Pages 287-307 (June 1991) 【全文链接】：http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.740170602/pdf
【序号】： 4 【作者】： C. W. Magee, R. E. Honig 【题名】： Depth profiling by SIMS - depth resolution, dynamic range and sensitivity 【期刊】： Surface and Interface Analysis, Volume 4, Issue 2, Pages 35-41 (April 1982) 【全文链接】：http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.740040202/pdf
【序号】： 5 【作者】： H. Tokutaka, K. Nishimori, H. Hayashi 【题名】： The electron mean free path (applicable to quantitative electron spectroscopy) 【期刊】： Surface Science, Volume 149, Issues 2-3, Pages 349-365 (2 January 1985) 【全文链接】：http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0039602885900688
应助达人
仪器信息网“仪友会”招募令
科学仪器品牌联合“仪器心得”征文活动
【生活中的仪器检测】有奖征文
LC-MS实验瓶颈的突破与优化
