X射线荧光光谱仪(XRF)
sonne86400
第1楼2015/01/15
你领导太任性 你跟他说全球所有的xrf都是定性半定量 何况你是edx 还有测这个滤膜你要叠加起来测 增加厚度 关于建立曲线的事情 你没有标样 用ms来做测量值 来做为参考 也是可行 但是 可能效果不是很好 没有标样的情况还是不太好测
sanji123
第2楼2015/01/15
滤膜需要叠加厚度? 满足不了无限厚吗另外就算MS能做出来, 可是 平行样的测量面 因为不是均匀了 照射出来的结果 极有可能对不上啊
第3楼2015/01/15
你不叠加 很容易x射线 穿掉 不均匀 半定量做出来都很难
第4楼2015/01/15
帕纳科他们的工程师当初用他们带的滤膜来给我们的仪器做了一个曲线。那个标准滤膜样品很薄的啊。当然了 这跟我们的玻璃纤维不一样的材料。玻璃纤维的滤膜需要多厚就不知道了
第5楼2015/01/15
工程师都给你做好曲线了 你还烦恼啥呢
超宇科技
第6楼2015/01/15
用过氯乙烯测尘滤膜
第7楼2015/01/16
那个滤膜样品的标样的材质根本跟我们平时采集空气的玻璃纤维不一样的材质。当初我用ICP-MS对比过数据,差的远。
第8楼2015/01/16
1.过氯乙烯的滤膜采集样品是否均匀。2.过氯乙烯的滤膜能否达到无限厚。
水清鱼读月
第9楼2015/01/16
你现在不是有了个曲线了么?就用这个条件测试一下均匀性好了,最好不同位置每个位置测试3-5遍。不管这个结果准确程度有多高,用来比较一下不同位置的含量是否一致是没有问题的。另外,不知道你使用ICP-MS测试的重金属含量值在多少,如果含量特别低的话(比如1ppm不到),E5可能对应不了的。含量在几到几百ppm,需要选择合适的滤光片。
envirend
第10楼2015/01/17
和你一样,是搞环境监测的,以后要多帮助我们。我初学XRF,对你的话题谈点自己的看法:滤膜样品用ICPMS订值的困难一是主量元素未必能做好,二是玻璃纤维滤膜空白差异很大导致痕量元素也未必能做好(当然滤膜消解方法也很难把握)。主量元素和痕量元素做不好,加之采样的两个滤膜差异,之采样后滤膜的保存(折叠问题,含水问题),同一张滤膜的均匀性--主要指不同厚度的均匀性及粒粒的均匀性,对高原子足球穿透引起无限厚问题,都对XRF的的分析带来很大挑战。
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