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采用FIB切割样品时,样品保护注意事项

  • 仙后婧婧(谭思婧)
    2015/07/30
  • 私聊

扫描电镜(SEM/EDS)

  • 随着纳米技术的逐渐成熟,人们迫切的希望能够像对宏观样品进行机械加工那样,对纳米尺寸的材料也能够进行人工操作,进而更深入的认识纳米材料的形貌以及相关性能。在这样的背景下,被称为那“纳米手术刀”的聚焦离子束系统应运而生了。
    聚焦离子束(Focused Ion beam, FIB)的系统是利用静电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微加工仪器。通过荷能离子轰击材料表面,实现材料的剥离、沉积、注入和改性。现代先进FIB系统为双束,即离子束+电子束(FIB+SEM)的系统。在SEM微观成像实时观察下,用离子束进行微加工。

    图2. TEM试样制备

    +关注 私聊
  • 仙后婧婧(谭思婧)

    第1楼2015/07/31

    FIB切割的时候,样品保护是非常重要,不然高能量打出来的样品结构都变了,白分析

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