XRF分析金属有害物质的干扰问题

利用XRF测试误差是必然的,偏差只能减小,不能避免,它基本上属于半定量分析,另外XRF软体资料一般是以常见的塑胶样品建立起来的,当然也有少部分的金属样品,但这些都远远不能满足实际使用的各种材料,这也是引起偏差的主要原因,还有就是XRF测试依赖原子激发放射光谱,这样的话不能使测试样品数据均一化,有偏差,另外目前所存在的元素,有很多激发能量比较接近,所以这也会带来很大影响.

样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其他元素的干扰.典型的干扰有
Cd:可能的干扰来自溴,铅,锡,锑~~

铅会受溴和砷的干扰,As干扰PbLa Br干扰PbLb

回覆
考慮鍍層與底材的關係,因X-ray強度可能因鍍層厚薄.是否能針測至底材為考量因素,如你所言的情況可能為
1.鍍層有pb含量但底材無pb含量,在進行化測時鍍層的高含量的pb被底材因重量比例所稀釋,導致值高變值低.
2.鍍層無pb等元素含量但底材有值,由於X-ray無法穿透鍍層偵測底材時會導致誤判結果與化性測試差異極大.
所以建議去除鍍層偵測.

这样很麻烦吖...为了检测许多东西都要剪碎什么的..

X荧光在ROHS领域只是一种粗测，筛选设备，又不做精准测量，那么如果仅仅只是做品质控制的话，别的仪器可达不到，楼主所提的元素干扰，那肯定是存在的，但也要看每个公司的软件处理怎么做。

XRF没有自己的方法来做校正，误差很大，但如果校正的好，误差又可以减到很小。我是第三方检测机构的，我们的XRF就做的很好，值得借鉴！

请问你是如何做的？可以说一下吗？

X荧光的这个误差率正常的，如果你要精确测定不能用XRF的！！X荧光一般作常量还可以，微量痕量原则上不能作数据的！！你们要求不高作筛选大概可以吧，但要求高的不能用XRF