SIM模式基线问题

15-19min这段时间内，基质也出来了，，太高了基线。。看样子不是升温造成的

请问在同样条件下，是否试过Scan模式的测定？

双模式的，SCAN在该时间段基线也在升高，但后面基线也高，后面一组的SIM图不是这样的

- -！我的比这严重多了，基本都是楼主15到19min间的峰。那个专家给解释下。

能不能上个scan 的对比图，感觉基线是前面有什么没流完，基线已经上来了，但是sim没采集到

应助达人

也可能是正常的，可能和选择的离子有关。

请问高出来的部分是那些离子？

应助达人

具体是那些离子？

我猜想是否是以前“时间程序”（time program）设了Gain 增益，现在忘了改回去了。建议检查一下time program，把有关DET voltage的指令去掉再试。
没用过Agilent的GCMS，只用过岛津的。 但是功能上应该差不太多吧。