求助老师教下ICPMS校准中背景噪声、灵敏度、检出限的具体算法

我用的是PE NEXION 300X，背景噪声做出来达不到小于5cps的要求；
—— 很正常！因为按照你的做法，你实际测的是：纯水+进样系统残留+真空透镜系统残留+检测器电子噪声 四者之和。
而 JJF ICPMS校正的本意，是测试 检测器电子 噪声。Agilent ICP-MS能让 四极杆质量分析器不工作，只检测 电子噪声。Thermo 的是没法；不清楚PE。
灵敏度计算时单位换算不是太清楚，是不是1Mcps=100000cps？
—— 10ppb Be In Bi上机测试，比如Be是50000 cps，那么 50000cps÷（10ppb）=5000 cps/ppb = 5 kcps/ppb =5 Mcps/ppm
从 千(k)到百万(M)，三个数量级；从ppb到ppm，正好也三个数量级。
《JJF 1159-2006 四极杆电感耦合等离子体质谱仪校准规范》要求 Be>5 Mcps/ppm; PE NexION 的出厂指标只承诺 Be>3 Mcps/ppm；所以你要做通过这个指标，有点难度的哦。

新设备吗？通常背景高的话，排除系统污染，那就是抽真空的时间短，连续抽几天试试，再有就是检查氩气纯度是否至少达到4.5N。

受教了，谢谢。

现有JJF有点不切实际，索性新的标准要出来了，坐等

没错！上次和中国计量院化学所逯海研究员聊到此事，正在酝酿中的JJG 四极杆ICP-MS检定规程会更独立（不再接受各个仪器厂家掺私货）。
灵敏度就是 用Be In Bi做指标，不再接受 Li Y Rh Tl Th U 这些；
氧化物产率就是用 CeO/Ce<2.5% ，不接受 BaO/Ba，因为实际中 BaO 产率很低。
双电荷产率就是用 Ba++/Ba+ ，不接受 Ce++/Ce+，因为实际中 Ce++双电荷产率很低。

应助工程师

那这个其实也很麻烦：
Be隔壁就是B，B这玩意又很容易被污染。标准里面要是没特别注明，长期使用调谐液的话，还是有可能会出现质量轴偏掉的情况的

209Bi旁边的208Pb更容易污染吧。
我个人倾向于
(1)使用 7Li 115In 238U 作为灵敏度、检出限、短期/长期稳定性指标；但国内的元素标物提供方（比如标物中心、钢研纳克）以放射性为由，不提供U Th元素单标/混标。
(2) 氧化物和双电荷都用 Ce，简单些：比如 CeO/Ce <2.5%, Ce++/Ce+ < 2.5%
通常而言，Ce++/Ce+ 低于 1.7%时，此时 Ba++/Ba+ 才低于 3.0%。

个人愚见，有些指标没有涉及比较详细的参数，比如同位素丰度比，为了得到较好的数据，有的厂商设置扫描次数上百，甚至有上千的，大家都知道延长积分时间可以让数据好看，但是可不可以有一个上限或者下限呢？背景噪声用现有的指标要求做，是不可能有仪器达标的。您还知道更多新标准指标吗？什么时候能出来呢？比如铍的灵敏度要求多少？

现有JJF里规定扫描10次，但没有明确积分时间。
四极杆 ICPMS 同位素比值精度通常也就0.1%~0.2%——不是每次都能做出 0.05%这种精度的。够满足同位素稀释法 ID-MS测含量的要求了。
要更高精度，那得是多接收器的 Thermo Neptune 和 Nu Plasma MC-ICPMS。


安捷伦软件是可以让 四极杆质量分析器不工作，从而获得 检测器背景噪声。
热电 iCAP Q和RQ 软件没办法。
不清楚现在PE NexION 2000是否可以？
[div]原文由 说你行你就行(v3057617) 发表:您还知道更多新标准指标吗？什么时候能出来呢？比如铍的灵敏度要求多少？[/div]按照2006年的JJF，Be灵敏度>5Mcps/ppm;
PE NexION 300/350 出厂指标 Be灵敏度>3Mcps/ppm，是不满足我国计量校准的。
直到今年2月发布的PE NexION 2000，灵敏度才比 300/350翻倍。