仪器信息网APP
选仪器、听讲座、看资讯

有没有用尼高力傅里叶红外测碳化硅外延片厚度的?求讨论

  • aolifu3516
    2017/09/06
  • 私聊

红外光谱(IR)

  • 有没有用尼高力傅里叶红外测碳化硅外延片厚度的?求讨论。
    这个需要用标准样品校准吗?如何做的呢?
    +关注 私聊
  • doublezhq

    第1楼2017/09/29

    一般来说肯定是要标准品的,不过有一种最简单的测量外延层方法,不需要标准品,使用干涉图就可以了,不过外延层要比较厚能产生明显的干涉峰才行。

0
    +关注 私聊
  • 天津天光光学仪器

    第2楼2017/10/02

    利用干涉条纹测量样品的厚度,确实是比较精确,但是厚度必须满足某些条件。

0
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
举报帖子

执行举报

点赞用户
好友列表
加载中...
正在为您切换请稍后...